Diffusivity of Point Defects in the Passive Film on Stainless Steel

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Descripción: Las propiedades semiconductoras de las películas pasivas formadas sobre acero inoxidable AISI 316 en solución de ácido sulfúrico se estudiaron empleando el análisis de Mott-Schottky junto con el modelo de defecto puntual. La densidad de donantes de las películas pasivas, que puede estimarse mediante los gráficos de Mott-Schottky, cambia en función de los potenciales de formación de la película. Basándose en el análisis Mott-Schottky, se desarrolló una relación exponencial entre la densidad donante y los potenciales de formación de la película pasiva. Los resultados mostraron que las densidades de donantes evaluadas a partir de los gráficos de Mott-Schottky se encuentran en el rango 2-3 × 1021 cm-3 y disminuyen con el potencial de formación de la película. Suponiendo que los donantes son vacantes de iones oxígeno y/o intersticiales de cationes, se calcula que el coeficiente de difusión de los donantes, (DO), es de aproximadamente 3,12 × 10-16 cm2/s.
Citación recomendada (normas APA)
: SAGE-Hindawi Access to Research, "Diffusivity of Point Defects in the Passive Film on Stainless Steel", -:Revista VirtualPRO,, 2010. Consultado en línea en la Biblioteca Digital de Bogotá (https://www.bibliotecadigitaldebogota.gov.co/resources/3891044/), el día 2025-07-10.

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